μsprint sensor





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NanoFocus AG

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Fax: 0208 62 000 -99

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Auf einen Blick


  • hoher Messgeschwindigkeit
  • schnelle und einfache Erstellung von Messrezepten
  • vollautomatisches Handling, Messung
    und Auswertung
  • einsetzbar auf verschiedensten Substrattypen
  • reinraumtauglich
  • Messungen von ball diameter
    bis zu 50 μm
  • Messungen von vall pitch bis zu 100 μm

Applikationsblatt Bump-Inspektion





Bump-Inspektion (PDF)